CMOS电路电流测试综述

作     者：闵应骅 MIN YING HUA

作者机构：中国科学院计算技术研究所 

基　　金：国家自然科学基金 

出 版 物：《计算机研究与发展》 (Journal of Computer Research and Development)

年 卷 期：1999年第36卷第2期

页      码：129-133页

摘      要：集成电路设计与测试是当今计算机技术研究的主要问题之一．ＣＭＯＳ电路的静态电流（ＩＤＤＱ）测试方法自８０年代提出以来，已被工业界采用，作为高可靠芯片的测试手段．近年来，动态电流（ＩＤＤＴ）测试方法正在研究中．现在正面临一些亟待解决的问题，希望大家的参与．

主 题 词：CMOS电路 电流测试 集成电路 计算机 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

馆 藏 号：203150212...