自制智能RAM、PROM测试仪介绍

作     者：阎蓉民 

作者机构：机电部三十所 

出 版 物：《通信技术》 (Communications Technology)

年 卷 期：1992年第25卷第1期

页      码：58-61页

摘      要：介绍自制智能RAM、PROM测试仪的软、硬件设计原理,给出了该仪器的硬件框图和软件流程图。

主 题 词：RAM PROM 测试仪 测试 智能 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203150527...