SSN研究及其在VLSI设计流程中的应用

作     者：徐栋麟 郭新伟 徐志伟 林越 任俊彦 

作者机构：复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室上海200433 

基　　金：上海应用材料研究与发展基金 (No.0 0 0 2 1 1 998) 

出 版 物：《电子学报》 (Acta Electronica Sinica)

年 卷 期：2001年第29卷第11期

页      码：1471-1474页

摘      要：本文详述了同步开关噪声 (SSN)影响VLSI电路可靠性的一个主要因素 :芯片 封装界面的寄生电感 .根据在芯片中插入电源 /地线引脚 ,减小芯片 封装界面的寄生电感的思想 ,提出一种简便有效的基于SSN性能的输出驱动器优化布局方法并将之集成到VLSI设计流程中 .用 0 6微米CMOS工艺进行了验证 .结果表明 :该优化设计可有效降低SSN对VLSI电路可靠性的影响 .

主 题 词：同步开关噪声 超大规模集成电路 电子设计自动化 设计流程 

学科分类：080903[080903] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:0372-2112.2001.11.008

馆 藏 号：203150713...