一种基于环路结构的RFIC内建自测试方法

作     者：崔伟 冯建华 叶红飞 闫鹏 CUI Wei;FENG Jianhua;YE Hongfei;YAN Peng

作者机构：北京大学微纳电子学系北京100871 北京大学深圳研究生院集成微系统重点实验室深圳518055 

基　　金：国家自然科学基金(61176039)资助 

出 版 物：《北京大学学报（自然科学版）》 (Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Pekinensis)

年 卷 期：2014年第50卷第4期

页      码：709-714页

摘      要：提出一种基于环路(Loopback)测试的内建自测试(BIST)方法。为了基于环路结构的内建自测试,设计了一种可编程CMOS衰减器。具有内建自测试(BIST)电路RF收发器的测试结果表明,此方法能够正确检测出系统故障,可以应用于生产测试,并能减少测试时间和测试成本。

主 题 词：内建自测试 Loopback 可测性设计 衰减器 射频集成电路 误差向量幅值(EVM) 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.13209/j.0479-8023.2014.110

馆 藏 号：203150842...