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基于SST89E58RD2的智能测试系统设计

基于SST89E58RD2的智能测试系统设计

作     者:郑蓓林 俞利明 

作者机构:杭州职业技术学院浙江杭州310018 浙江中控技术有限公司浙江杭州310053 

出 版 物:《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)

年 卷 期:2006年第29卷第15期

页      码:85-87页

摘      要:介绍了一种基于SST89E58RD2适用于中小电子、电气类产品测试的智能系统设计方案,详细描述了针对麻将机主板测试的系统实现过程,从SST89E58RD2单片机的特性、智能测试系统方案以及后续的功能展望等部分进行阐述。该智能测试系统的成功应用证明了设计的正确性以及可行性,取得了良好的经济效益。

主 题 词:智能 SPI下载 DI DO FLASH存储器 

学科分类:0810[工学-土木类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 081002[081002] 

馆 藏 号:203151080...

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