二氧化硅常见测定方法的探讨

作     者：侯双霞 侯宏涛 HOU Shuang-xia;HOU Hong-tao

作者机构：河南省机械设计研究院有限公司河南郑州450002 河南理工大学能源科学与工程学院河南焦作454003 

出 版 物：《科技视界》 (Science & Technology Vision)

年 卷 期：2015年第18期

页      码：137-137,233页

摘      要：主要介绍了目前二氧化硅的常见测定方法 ,例如重量法、氟硅酸钾容量法、X射线荧光光谱法等,并对各个方法进行了论述,这将对实际的分析工作有一些指导作用。

主 题 词：二氧化硅(Si O2) 传统化学法 X射线荧光光谱法 电感耦合等离子体发射光谱法 其他方法 

学科分类：081702[081702] 08[工学] 0817[工学-轻工类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.2095-2457.2015.18.099

馆 藏 号：203151168...