激光离子源离子迁移谱仪模拟研究

作     者：季仁东 王晓燕 JI Rendong;WANG Xiaoyan

作者机构：江苏淮阴工学院江苏淮安223003 

出 版 物：《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)

年 卷 期：2007年第30卷第24期

页      码：27-29,32页

摘      要：离子迁移谱技术(IMS)是一门新兴的化学分析技术,被广泛应用于测定痕量的化学武器、毒品、爆炸物,以及空气污染物等,跟其他的有机化合物分析仪器相比较,他具有体积小、灵敏度高、适用范围广、分析时间快,能在大气压和室温下工作等优点,是一种前景广阔的检测仪器。介绍了激光离子源IMS的工作原理、主要特点和仪器结构,利用软件SMION设计模拟激光离子源IMS,通过模拟实验得出真空状态下,信号接收盘半径与信号强度成正比关系,以及迁移管内的离子门开关电压阈值。

主 题 词：离子迁移谱 迁移管 SIMION 离子门 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 081002[081002] 

D　O　I：10.16652/j.issn.1004-373x.2007.24.011

馆 藏 号：203153178...