边沿速率导致的高速问题

作     者：吕霆 李宗华 Lü Ting;LI Zong-hua

作者机构：中国电子科技集团公司第五十四研究所河北石家庄050081 石家庄东方龙有限责任公司河北石家庄050021 

出 版 物：《电子工艺技术》 (Electronics Process Technology)

年 卷 期：2010年第31卷第2期

页      码：90-92,120页

摘      要：随着IC制造工艺水平的提高,信号的上升沿越来越快,由此就会引发许多反射、串扰、过冲和下冲等信号不完整的问题。由于这些问题都是由IC芯片的边沿速率提升导致,因此统称它们为高速问题。分析了各种高速问题中反射、串扰、过冲和下冲等产生的原因机理,并总结出了在PCB设计过程中的解决方法。

主 题 词：高速电路 高速问题 反射 串扰 过冲 下冲 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-3474.2010.02.007

馆 藏 号：203153271...