改进测试效率,提高服务能力

作     者：傅德文 张咏镭 张怡然 

作者机构：上海集成电路设计研究中心 

出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期：2004年第13卷第10期

页      码：49-52页

摘      要：半导体工业的飞速发展,对集成电路测试提出了前所未有的要求,国内集成电路测试企业要想在竞争激烈的市场中成长和发展,除了需要得到更多的投入和支持外,也需要开展DFT、SCAN、BIST等先进技术,先进工具的应用与研究,努力追赶世界先进水平。现阶段,应该尽量挖掘现有设备的潜力,加强同行间的相互交流与合作,千方百计地提高测试效率。文章介绍了三种对提高测试效率,减少测试时间,降低测试成本行之有效的方法。

主 题 词：集成电路测试 企业 测试时间 输出量 输入量 企业管理 测试效率 测试成本 参数测量 芯片测试 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-5289.2004.10.016

馆 藏 号：203154014...