分辨力增强技术的频谱分析

作     者：孙知渊 李艳秋 Sun Zhiyuan;Li Yanqiu

作者机构：中国科学院电工研究所 

基　　金：国家自然科学基金(10674134) 国家973计划(2003CB716204)资助课题 

出 版 物：《光学学报》 (Acta Optica Sinica)

年 卷 期：2007年第27卷第10期

页      码：1758-1764页

摘      要：离轴照明和衰减型相移掩模作为重要的分辨力增强技术,不仅可以提高光刻的分辨力,同时还可以改善成像焦深,扩大光刻工艺窗口,实现65-32 nm分辨成像。从频谱的角度分析了离轴照明和衰减型相移掩模对成像系统交叉传递函数和像场空间频率分布的影响,研究这两种技术的物理光学本质,由此进一步优化光学成像系统设计、分辨力增强技术和确定设备使用的参量。对分辨力增强技术的频谱分析研究表明,分辨力增强技术通过调整像场频谱分布,改善了光学光刻的图形质量。对于65 nm密集图形,离轴照明和相移掩模结合后可以使成像衬比度最高达到0.948,工艺窗口在5%曝光范围内焦深达到0.51μm。

主 题 词：成像系统 光学光刻 分辨力增强技术 频谱分析 

学科分类：080903[080903] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:0253-2239.2007.10.007

馆 藏 号：203154708...