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铕修饰硅纳米颗粒可视化检测铜离子

铕修饰硅纳米颗粒可视化检测铜离子

作     者:王文一 张学文 闫旭焕 杨秀颖 赵晨楠 田佳伟 WANG Wenyi;ZHANG Xuewen;YAN Xuhuan;YANG Xiuying;ZHAO Chennan;TIAN Jiawei

作者机构:天津工业大学材料科学与工程学院天津300387 

基  金:天津市自然科学基金资助项目(18JCQNJC72400) 天津市高等教育委员会科技发展基金资助项目(2018ZD14) 

出 版 物:《天津工业大学学报》 (Journal of Tiangong University)

年 卷 期:2024年第43卷第5期

页      码:31-37页

摘      要:为了实现对水中铜离子(Cu^(2+))的检测,设计开发了比率荧光探针铕修饰硅纳米颗粒(Eu-DPA@SiNPs)。在探针中,SiNPs作为参比信号,Eu^(3+)为响应信号,而2,6-吡啶二羧酸(DPA)作为“天线”敏化Eu^(3+)。采用透射电子显微镜(TEM)、傅里叶变换红外光谱(FTIR)、X射线衍射图谱(XRD)、紫外可见吸收光谱(UV-Vis)对探针进行形貌和结构的表征,用荧光光谱测试其检测性能。结果表明:当DPA与Eu^(3+)的摩尔比为0.5∶1时,探针具有最大淬灭效率;探针为均匀分散的球形颗粒,平均直径为26.15 nm;探针中加入Cu^(2+)后,10 s即反应完全,在0.2~13.0μmol/L范围呈现良好的线性关系,检出限(LOD)为0.41μmol/L,远低于美国环境保护署所规定的饮用水中Cu^(2+)含量最大允许限值,并成功将探针应用到实际水样中检测Cu^(2+);进一步制备了荧光检测试纸,实现了对Cu^(2+)的便携、可视化和半定量检测。

主 题 词:铕修饰 硅纳米颗粒 荧光检测 铜离子 

学科分类:081704[081704] 07[理学] 080202[080202] 08[工学] 0817[工学-轻工类] 070302[070302] 0802[工学-机械学] 0703[理学-化学类] 

D O I:10.3969/j.issn.1671-024x.2024.05.005

馆 藏 号:203154851...

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