典型工艺参数对阵列天线可靠性的影响机理

作     者：漆中华 张婧亮 杜小东 袁泽龙 廖旭 王艺玮 QI Zhonghua;ZHANG Jingliang;DU Xiaodong;YUAN Zelong;L IAO Xu;WANG Yiwei

作者机构：西南电子设备研究所成都610036 北京航空航天大学机械工程及自动化学院北京100083 清华大学深圳研究生院深圳518055 

基　　金：国防基础科研计划(JCKY2023210A004) 国家重点研发计划(2020YFB1710300) 

出 版 物：《电子工艺技术》 (Electronics Process Technology)

年 卷 期：2024年第45卷第6期

页      码：5-10页

摘      要：高精密一体化阵列天线产品的装调方式是“盲插、盲装、盲调”,状态不可知、过程不易控、缺少工艺参数与天线可靠性映射关系的研究,装配质量难保障。针对这些问题,分析了典型阵列天线组成及装配过程,识别影响天线可靠性的5种主要工艺参数,通过有限元仿真分析建立阵列天线装配工艺与机械可靠性映射模型,确定了5种工艺参数对阵列天线风险位置应力、应变及寿命的影响规律,并设计试验进行验证。最终阐明机电磁强耦合条件下阵列天线装配质量影响机理,为阵列天线装配质量预测与优化提供理论模型。

主 题 词：阵列天线 可靠性影响机理 KK连接器 紧固力矩 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.14176/j.issn.1001-3474.2024.06.002

馆 藏 号：203155529...