太赫兹频段下的波导传输线损耗测试分析

作     者：唐修明 宗文杰 朱凯强 肖钰 TANG Xiuming;ZONG Wenjie;ZHU Kaiqiang;XIAO Yu

作者机构：北京理工大学集成电路与电子学院北京100081 中山大学电子与通信工程学院深圳518107 

出 版 物：《微波学报》 (Journal of Microwaves)

年 卷 期：2024年第40卷第S1期

页      码：330-333页

摘      要：本文对340GHz频段下的波导损耗进行了测试与分析。首先分析了金属导体损耗的计算方法,并引入表面粗糙度进行校正。其次以340GHz为例,推导了在该频段下的导体损耗,根据计算结果可以看出,在引入表面粗糙度后,导体损耗已达0.0493dB/mm。为了进一步探究波导传输线的真实损耗,我们设计并加工测试了一款T型结,经测试表明,在325GHz-360GHz频段内,该T型结的插入损耗为-8dB,回波损耗优于-10dB。最后结合仿真以及实测结果分析损耗的主要来源包括导体损耗、电磁泄漏以及加工误差几大方面。

主 题 词：太赫兹 波导传输线 损耗分析 

学科分类：0810[工学-土木类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081001[081001] 

核心收录：

馆 藏 号：203156058...