基于ATE的高速存储器测试技术研究

作     者：谈元伟 李敬胶 常艳昭 苏洋 TAN Yuan-wei;LI Jing-jiao;CHANG Yan-zhao;SU Yang

作者机构：中国电子科技集团公司第五十八研究所 

出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期：2024年第33卷第12期

页      码：81-85页

摘      要：DDR3芯片是一种能最高支持1600 Mbps传输速率的高速存储器芯片,本文对该类芯片的功能描述,寄存器配置进行介绍,针对ATE(Automated Test Equipment,自动测试设备)测试机台设计了相应的硬件Loadboard,最后在ATE测试机台上进行了速度等级测试,测试结果验证了DDR3芯片在最高频率1600Mbps下的功能正确性,运用shmoo进行绘制眼图,分析DDR3的信号完整性,为DDR3芯片测试提供了一定的参考。

主 题 词：DDR3 寄存器编写 功能测试 自动测试设备 

学科分类：08[工学] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-5289.2024.12.014

馆 藏 号：203156531...