基于ARM的APD参数测试系统研究

作     者：吕奋斗 王彩霞 李冰 崔玉凤 曲国哲 

作者机构：长春理工大学电子信息工程学院吉林长春130012 

出 版 物：《信息通信》 (Information & Communications)

年 卷 期：2016年第29卷第1期

页      码：119-121页

摘      要：文章通过对APD工作原理和嵌入式系统的学习与理解,设计了基于ARM的具有温度补偿APD偏压电路,前置放大电路以及温度控制电路的APD参数测试系统。通过此系统可以将测得的电流与偏压、温度的参数绘制出电流、偏压及温度关系曲线图,并得到合理工作温度及合理偏置电压,为以后光通信微弱信号探测系统的设计与实现奠定理论和实践的基础。

主 题 词：APD 偏置电压 温度 前置放大 嵌入式 Qt 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1673-1131.2016.01.056

馆 藏 号：203156622...