基于数据分析的GAMMA自动调试系统

作     者：何胜斌 潘云龙 何祥祺 HE Shengbin;PAN Yunlong;HE Xiangqi

作者机构：深圳市兆驰股份有限公司广东深圳518026 香港中文大学广东深圳518000 

出 版 物：《西安文理学院学报(自然科学版)》 (Journal of Xi’an University(Natural Science Edition))

年 卷 期：2025年第1期

页      码：27-31,50页

摘      要：智能显示终端在人们生活中广泛使用,已经息息相关,带来更多的视觉体验.经过详细调校的优秀产品出厂时应该保证所有设计指标,克服个体差异性.众多参数单纯靠人力调节,操作繁琐,调试时间久,无法满足日益增长的产线产能.通过系统分析图像显示曲线,提出逼近式数据采集形成Auto Gamma数据库和改进的传输协议,可以精确模拟用户操作行为,提高生产效率,减少测试人为错误,并且提供完整的透明性,可追溯性.

主 题 词：显示终端 调校 Auto Gamma 追溯 

学科分类：081203[081203] 08[工学] 0835[0835] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203156937...