利用CCD测量单缝衍射光强分布

作     者：孟继轲 杨型健 时振涛 MENG Jike, YANG Xingjian, SHI Zhentao(Taiyuan Heavy Machinery Institute, Taiyuan 030024,China)

作者机构：太原重型机械学院太原030024 

出 版 物：《太原重型机械学院学报》 (Journal of Taiyuan Heavy Machinery Institute)

年 卷 期：2003年第24卷第3期

页      码：205-208页

摘      要：利用一种新型半导体集成光电器件,即CCD(ChargeCoupleDevices)电荷耦合器件,并通过CCD专用接口卡来直接测量单缝衍射光强分布,实现测试数据自动采集和实验结果自动输出。叙述了线阵CCD测量光强度的原理,分析了系统的软、硬件设计及测试结果。

主 题 词：单缝衍射 电荷耦合器件 模数转换 光强分布 CCD 测量 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080402[080402] 0804[工学-材料学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1673-2057.2003.03.011

馆 藏 号：203157399...