一种基于多目标约束的互连线宽和线间距优化模型

作     者：朱樟明 万达经 杨银堂 Zhu Zhang-Ming;Wan Da-Jing;Yang Yin-Tang

作者机构：西安电子科技大学微电子学院西安710071 

基　　金：国家自然科学基金(批准号:60725415 60971066) 国家高技术研究发展计划(批准号:2009AA01Z258 2009AA01Z260)资助的课题~~ 

出 版 物：《物理学报》 (Acta Physica Sinica)

年 卷 期：2010年第59卷第7期

页      码：4837-4842页

摘      要：优化线宽和线间距已经成为改善系统芯片性能的关键技术.本文基于互连线线宽和线间距对互连延时、功耗、面积和带宽的影响,提出了基于多目标优化方法实现优化线宽和线间距的思路,并利用曲线拟合方法得到了多目标约束的解析模型.Hspice验证结果显示,该解析模型精度较高,平均误差不超过5%,算法简单,能有效弥补应用品质因数方法的缺陷,可以应用于纳米级互补金属氧化物半导体系统芯片的计算机辅助设计.

主 题 词：多目标约束 曲线拟合 互连线尺寸 纳米级集成电路 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0805[工学-能源动力学] 0704[理学-天文学类] 

核心收录：

D　O　I：10.7498/aps.59.4837

馆 藏 号：203157439...