基于遗传算法的分割可测试设计

作     者：李宇飞 余宙 付宇卓 LI Yu-fei;YU Zhou;FU Yu-zhuo

作者机构：上海交通大学微电子学院上海200240 

出 版 物：《上海交通大学学报》 (Journal of Shanghai Jiaotong University)

年 卷 期：2007年第41卷第11期

页      码：1774-1777,1782页

摘      要：基于遗传算法,建立了片上系统芯片(SOC)的图模型,对逻辑级的SOC结构进行精确量化;然后,对模型应用遗传算法进行分析,得到了电路的理想分割结果;最后,基于分割结果,实现一颗SOC的可测试设计(DFT).实验结果表明,在分割的均匀度与附加电路代价方面,该方法相比原有的DFT方法有显著的改进.

主 题 词：片上系统芯片 可测试设计 测试功耗 分割 遗传算法 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1006-2467.2007.11.008

馆 藏 号：203157796...