基于VXI总线通用型集成运放测试系统设计

作     者：殷贤华 梁光发 Yin Xianhua;Liang Guangfa

作者机构：桂林电子科技大学电子工程与自动化学院广西桂林541004 

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2010年第18卷第12期

页      码：2735-2737,2760页

摘      要：根据集成运算放大器参数自动测试的需要,在深入研究集成运放测试电路和虚拟仪器技术、VXI总线自动测试系统的基础上,设计了VXI总线集成运放测试系统;应用加锁和解锁技术,使局域网终端能够共享测试系统,应用IVI仪器驱动器技术,使测试系统具有可互换性;实验证明,测试系统能够对通用型单运放、双运放和四运放集成电路开环差模电压放大倍数、最大输出电压和频率特性等参数进行自动测试,并自动生成测试报告;结果正确,精度高,速度快,便于共享和维护,有效提高了集成运放的测试效率和可靠性。

主 题 词：虚拟仪器 VXI测试系统 运放参数 

学科分类：081203[081203] 08[工学] 0835[0835] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2010.12.022

馆 藏 号：203157919...