非下采样Contourlet域自适应阈值面的磁瓦表面缺陷检测

作     者：李雪琴 蒋红海 刘培勇 殷国富 Li Xueqin;Jiang Honghai;Liu Peiyong;Yin Guofu

作者机构：四川大学制造科学与工程学院成都610065 昆明理工大学机电工程学院昆明650504 

基　　金：国家科技支撑计划(2012BAF06B02) 四川省科技支撑计划(2011CGZ0049) 

出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期：2014年第26卷第4期

页      码：553-558页

摘      要：为提高磁瓦表面缺陷人工检测效率、防止缺陷漏检,针对经典缺陷检测算法不能很好地提取颜色暗、对比度低的磁瓦图像缺陷问题,提出一种非下采样Contourlet域自适应阈值面的磁瓦缺陷自动检测方法.该方法根据非下采样Contourlet变换(NSCT)子带系数所在不同区域的特性,采用线扫描的方式对NSCT系数进行阈值处理,给出不同尺度、不同方向的归一化自适应阈值面;并与原始NSCT各子带归一化系数对比分割,以实现对磁瓦图像NSCT系数逐列自适应修正;最后重构NSCT系数提取出磁瓦缺陷.实验结果表明,文中方法能够有效地去除磁瓦表面纹理,提取出磁瓦表面缺陷的准确率可达95%.

主 题 词：磁瓦 非下采样Contourlet变换 缺陷检测 自适应阈值面 

学科分类：1305[艺术学-设计学类] 13[艺术学] 08[工学] 081104[081104] 0804[工学-材料学] 0835[0835] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

馆 藏 号：203158071...