微带法测试薄膜0．5～5G磁导率

作     者：彭显旭 江建军 张秀成 何华辉 PENG Xian-xu;JIANG Jian-jun;ZHANG Xiu-cheng;HE Hua-hui

作者机构：华中科技大学电子科学与技术系湖北武汉430074 

出 版 物：《功能材料》 (Journal of Functional Materials)

年 卷 期：2006年第37卷第2期

页      码：191-193页

摘      要：提出了可以在0．5～5GHZ频带扫频测量磁性薄膜复磁导率μr的微带线法，推导出了由倒置短路微带线单端口网络的反射系数R（S11）表示μr的理论公式。对微带线夹具进行了设计，并结合虚拟仪器技术，以LabVIEW为软件平台建立了一套测量薄膜微波复磁导率的自动测量系统。给出了FeCo基磁性纳米颗粒膜的磁导率测试曲线，表明微带法具有准确性较高、既适宜于面内各向异性薄膜又适合于各向同性薄膜的测量和容易操作等优点。

主 题 词：微带法 测量 复磁导率 薄膜 LabVIEW 

学科分类：080801[080801] 080901[080901] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1001-9731.2006.02.007

馆 藏 号：203159274...