内建自测试相移器设计算法的优化

作     者：吴玺 刘军 刘正琼 WU Xi;LIU Jun;LIU Zheng Qiong

作者机构：合肥工业大学计算机与信息学院安徽合肥230009 

出 版 物：《电子技术应用》 (Application of Electronic Technique)

年 卷 期：2007年第33卷第6期

页      码：31-33页

摘      要：在原相移器设计算法的基础上,通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移器设计算法。实验结果表明,此算法不仅克服了原算法设计的相移器造成LFSR扇出过大的缺点,而且提高了伪随机测试故障的覆盖率。

主 题 词：伪随机测试 混合模式测试 相移器 线性反馈移位寄存器 故障覆盖率 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 0802[工学-机械学] 080201[080201] 

D　O　I：10.16157/j.issn.0258-7998.2007.06.004

馆 藏 号：203159311...