基于物理版图信息的低功耗扫描测试方法

作     者：刘龑达 万培元 林平分 LIU Yan-da;WAN Pei-yuan;LIN Ping-fen

作者机构：北京工业大学北京市嵌入式系统重点实验室北京100124 

出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期：2014年第23卷第7期

页      码：30-34页

摘      要：芯片测试模式下功耗过高的情形会极大地降低芯片良率,已经成为越来越严重的问题。针对此问题,本文提出了一种降低测试功耗的设计方法。该方法采用贪婪算法来改变扫描链顺序,同时考虑芯片物理版图中寄存器单元的具体位置,能够实现在不影响测试覆盖率和绕线的前提下,快速有效地降低测试功耗。与已有的多种方法相比,该方法更快速更合理,可以应用于多种芯片的扫描链设计。该方法通过一款实际的电力线载波通信芯片验证,分别将平均功耗和瞬态功耗降至77%和83%。

主 题 词：扫描测试 低功耗 贪婪算法 片上系统 绕线 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-5289.2014.07.006

馆 藏 号：203161170...