超大规模集成电路内装测试生成模式新方法

作     者：徐秀兰 

作者机构：北京邮电学院计算机系100088 

出 版 物：《计算机研究与发展》 (Journal of Computer Research and Development)

年 卷 期：1993年第30卷第11期

页      码：61-65,F004页

摘      要：本文阐述一种由片内二进制计数与“异或”门阵列组成的内装测试电路产生测试模式的新方法。根据线性变换的基本原理对电路设计的“异或”门阵列进一步简化,可以实现在有限的硬件支持下达到预期故障覆盖率的效果,从而促进了内装测试技术的推广和应用。

主 题 词：集成电路 VLSI 测试 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

馆 藏 号：203162308...