扫描与边界扫描电路延迟故障的测试

作     者：彭新光 

作者机构：太原工业大学电子信息系 山西 太原 

出 版 物：《太原工业大学学报》 (JOURNAL OF TAIYUAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY)

年 卷 期：1996年第27卷第4期

页      码：57-60页

摘      要：本文提出了一种用于扫描通路与边界扫描易测试设计电路中锁存器的排序算法，通过减小锁存器的相关性来提高通路延迟故障的被测度。该算法已在Ａｐｏｌｏ工作站用ＤＯＭＡＩＮＣ语言实现。延迟故障模拟实验表明，排序电路同原序电路相比。

主 题 词：延迟故障 测试 扫描电路 边界扫描电路 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16355/j.cnki.issn1007-9432tyut.1996.04.012

馆 藏 号：203162357...