采样红外成像系统的混淆效应研究

作     者：史浩然 李召龙 沈同圣 娄树理 Shi Haoran;Li Zhaolong;Shen Tongsheng;Lou Shuli

作者机构：海军航空工程学院研究生管理大队山东烟台264001 中国国防科技信息中心北京100142 海军航空工程学院控制工程系山东烟台264001 

基　　金：国家自然科学基金(61303192) "十二五"总装预研项目(51303020403-3) 

出 版 物：《红外与激光工程》 (Infrared and Laser Engineering)

年 卷 期：2016年第45卷第4期

页      码：103-108页

摘      要：对红外焦平面阵列而言,欠采样产生的混淆效应严重影响成像质量。基于红外焦平面阵列的成像过程,在时间域分析了探测器的采样过程,在频率域定量研究了混淆效应对图像的影响,根据混淆产生的机理,分别对周期目标和非周期目标进行仿真实验。实验结果表明:对周期目标会有混淆失真现象,改变了图形的几何形状,对于非周期图像会产生锯齿条纹。指出在低空间频率内混淆影响小,噪声对图像的影响占主导地位,而在高空间频率内混淆失真严重,噪声影响小,这对消除图像混淆的影响、系统参数设计等方面具有一定的参考价值。

主 题 词：欠采样 混淆效应 红外成像系统 三维噪声 频谱 

学科分类：0808[工学-自动化类] 080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 0802[工学-机械学] 0825[工学-环境科学与工程类] 0704[理学-天文学类] 0803[工学-仪器类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3788/irla201645.0404003

馆 藏 号：203162771...