相变存储器测试系统中的脉冲信号的改善

作     者：梁爽 宋志棠 刘波 陈小刚 封松林 Liang Shuang;Song Zhitang;Liu Bo;Chen Xiaogang;Feng Songlin

作者机构：中国科学院上海微系统与信息技术研究所纳米技术研究室 

基　　金：国家重点基础研究发展计划(2006CB302700) 中国科学院资助项目(Y2005027) 上海市科委资助项目(05JC14076 0552nm043 AM0517 06QA14060 06XD14025 0652nm003 06DZ22017) 

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2007年第15卷第10期

页      码：1281-1282,1294页

摘      要：相变存储器测试系统由于PCI控制卡中的总线信号之间的串扰,严重影响了施加在器件单元上的波形;以保证对C-RAM(Chalcogenide-Random Access Memory)进行非晶化操作时脉冲信号下降沿的速度和整个信号的完整性,针对以上问题分别从串口与单片机通信控制继电器和利用PCI控制卡控制继电器两个方面提出了解决方案,并进行了相应的硬件电路和软件设计;结果发现非晶化操作时脉冲信号下降速度加快,并且消除了信号的失真;改善后的测试系统对器件一致性的参数的提取发挥了重要作用,为芯片的电路设计奠定了基础。

主 题 词：相变存储器 测试系统 串口 PCI控制卡 

学科分类：081203[081203] 08[工学] 0835[0835] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-4598.2007.10.006

馆 藏 号：203163137...