多功能数字芯片测试仪的设计与应用

作     者：肖宝森 Xiao Baosen

作者机构：厦门大学嘉庚学院电子工程系 

出 版 物：《实验技术与管理》 (Experimental Technology and Management)

年 卷 期：2010年第27卷第12期

页      码：133-136页

摘      要：集成电路芯片已经成为现代电子设备中大量使用的电子元器件,集成电路芯片的检测是电子设备故障排除中的一项重要工作。建立了固定型故障模型,并以HT46RU24为核心设计一种数字芯片测试仪,通过测试码控制并测试硬件的运行情况,把测试结果与准确值比较,自动给出正误判断的结果。该仪器能完成20脚以内TTL系列和CMOS系列数字集成电路芯片的测试,并带有网络通信接口。实践证明,该仪器具有体积小、重量轻、成本低、人机界面友好、操作方便和可靠性高等优点,具有较高的实用价值。

主 题 词：故障模型 HT46RU24 TTL CMOS 测试集 

学科分类：081203[081203] 08[工学] 0835[0835] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.16791/j.cnki.sjg.2010.12.041

馆 藏 号：203164448...