基于FPGA和FT245的芯片功能测试装置的设计与实现

作     者：凌伟 杨燕姣 LING Wei;YANG Yan-jiao

作者机构：电子测试技术国家重点实验室仪器科学与动态测试教育部重点实验室中北大学太原030051 

基　　金：国家自然科学基金(60871041)资助 

出 版 物：《科学技术与工程》 (Science Technology and Engineering)

年 卷 期：2012年第20卷第36期

页      码：9976-9979,9993页

摘      要：设计芯片功能测试装置,以FPGA为控制单元,利用FT245实现FPGA与上位机的通信。上位机发送测试数据,然后采集被测芯片的输出响应并分析。与理论上正确的数据进行比较,得出结论。对于模拟芯片设计了A/D和D/A转换模块,调试的结果表明,测试装置可完成对常用芯片的功能测试。

主 题 词：FPGA FT245 数据采集 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-1815.2012.36.037

馆 藏 号：203165451...