片式多层陶瓷电容失效模式研究

作     者：刘锐 陈亚兰 唐万军 姚世锋 LIU Rui;CHEN Yalan;TANG Wanjun;YAO Shifeng

作者机构：中国电子科技集团公司第二十四研究所重庆400060 中国人民解放军总装备部重庆军事代表局重庆400060 

出 版 物：《微电子学》 (Microelectronics)

年 卷 期：2013年第43卷第3期

页      码：449-452页

摘      要：介绍了片式陶瓷电容的基本结构和材料特性及其常见的短路、开路和参数漂移失效模式;分析了失效的主要原因。结合工程实践,从器件选型、用前筛选、版图及结构设计和装配工艺选择等方面,给出了提高多层陶瓷电容使用可靠性的建议。

主 题 词：陶瓷电容 失效模式 失效分析 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1004-3365.2013.03.034

馆 藏 号：203165646...