基于APV25读出电子学系统的GEM探测器的位置分辨与X射线成像研究

作     者：蹇司玉 胡守扬 周静 李兴隆 梁浩 周意 祁辉荣 李笑梅 JIAN Si-yu;HU Shou-yang;ZHOU Jing;LI Xing-long;LIANG Hao;ZHOU Yi;QI Hui-rong;LI Xiao-mei

作者机构：中国原子能科学研究院核数据重点实验室北京102413 中国科学技术大学核探测与核电子学国家重点实验室安徽合肥230026 中国科学院高能物理研究所核探测与核电子学国家重点实验室北京100049 北京大学高能物理研究中心北京100871 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(11175262) 核探测与核电子学国家重点实验室开放课题基金资助项目 973计划资助项目(2013CB837800) 中核预研基金 中国原子能科学研究院院长基金联合资助项目 

出 版 物：《原子能科学技术》 (Atomic Energy Science and Technology)

年 卷 期：2016年第50卷第6期

页      码：1132-1136页

摘      要：采用3层GEM膜制作了有效面积为10cm×10cm的GEM探测器,该探测器采用二维条读出方式,条间距为400μm,每个维度有256个读出通道。探测器的读出采用APV25读出电子学系统,根据GEM探测器的需要,设计并改进了电子学系统使用的背板连接器。实验测得GEM探测器空间分辨为76μm。进行了X射线二维成像研究,获得了清晰的二维图像,探测器与电子学运行稳定可靠。

主 题 词：GEM探测器 APV25 位置分辨 X射线成像 

学科分类：07[理学] 0807[工学-电子信息类] 0827[工学-食品科学与工程类] 0703[理学-化学类] 070202[070202] 0801[工学-力学类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.7538/yzk.2016.50.06.1132

馆 藏 号：203166108...