嵌入式存储器测试

作     者：Goh Swee Heng Toh Ser Chye Wong Kok Sun 

作者机构：Staff Engineer Test R&D Test Development Product Engineering STATSChipPAC Ltd 

出 版 物：《集成电路应用》 (Application of IC)

年 卷 期：2008年第25卷第9期

页      码：46-48页

摘      要：随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构,并介绍各种DFT(可测性设计)测试技术,如SCAN〔扫描〕、MBIST(存储器内建自测试)以及BISR(内建自修复)。

主 题 词：嵌入式存储器 器件测试 存储器内建自测试 SOC系统 可测性设计 MBIST 制造技术 测试技术 

学科分类：080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-2583.2008.09.014

馆 藏 号：203171621...