SEU加固存储单元多节点翻转的准三维数值模拟

作     者：刘琳 赵元富 岳素格 LIU Lin;ZHAO Yuan-fu;YUE Su-ge

作者机构：北京微电子技术研究所设计部北京100076 

基　　金：国家核高基专项项目(2008ZX01019-001) 

出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期：2010年第27卷第5期

页      码：99-102页

摘      要：为了深入了解SEU加固存储单元中多节点翻转的内部电荷收集及电压变化机制,采用准三维模拟工具MEDICI,对DIED加固单元进行器件/电路的混合模拟.结果表明,瞬时浮制节点和电荷的横向扩散是多节点翻转的关键原因.还研究其他加固单元多节点翻转的特点,并给出了避免多节点翻转的方法.

主 题 词：多节点翻转 电荷收集 准三维模拟 SEU 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2010.05.025

馆 藏 号：203172906...