玉米叶片光谱弱差信息的重金属污染定性分析

作     者：汪国平 杨可明 张婉婉 卓伟 张文文 WANG Guoping;YANG Keming;ZHANG Wanwan;ZHUO Wei;ZHANG Wenwen

作者机构：中国矿业大学(北京)地球科学与测绘工程学院北京100083 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(41271436) 中央高校基本科研业务费专项资金(2009QD02) 

出 版 物：《环境工程学报》 (Chinese Journal of Environmental Engineering)

年 卷 期：2016年第10卷第8期

页      码：4601-4606页

摘      要：不同重金属污染下的玉米叶片光谱响应存在细微差异。设计不同浓度的铜(Cu)和铅(Pb)污染实验,并测量不同浓度铜离子和铅离子胁迫下玉米叶片的光谱反射率、Cu含量、Pb含量及对应叶绿素含量。针对光谱弱差信息甄别的难点,结合光谱微分处理、光谱角、正切函数增强和波谱分段检测等构建一种甄别玉米叶片Cu、Pb胁迫的分段微分光谱角正切(segmentation derivative spectral angle tangent,SDSAT)模型。甄别玉米叶片不同生长程度的玉米叶片在Cu、Pb胁迫下的光谱响应差异,并通过区分玉米冠层Cu、Pb胁迫光谱的差异以验证该模型有效可行。实验结果表明,SDSAT模型甄别Cu、Pb胁迫玉米光谱主要差异在"紫光""红边"和"近峰B"波段区间,这些差异也是鉴别Cu、Pb污染的定性分析标志,并可以根据模型测度结果分析玉米的污染程度。

主 题 词：微分光谱 光谱角 正切函数 玉米叶片 重金属污染 弱信息检测 定性甄别 

学科分类：0710[理学-生物科学类] 0830[工学-生物工程类] 082803[082803] 08[工学] 0828[工学-建筑类] 0815[工学-矿业类] 0804[工学-材料学] 

核心收录：

D　O　I：10.12030/j.cjee.201601103

馆 藏 号：203173163...