一种嵌入式NOR Flash控制器IP的设计

作     者：解同同 李天阳 XIE Tongtong;LI Tianyang

作者机构：江南大学物联网工程学院江苏无锡214122 中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 

出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)

年 卷 期：2016年第16卷第7期

页      码：18-21,43页

摘      要：当前,嵌入式Flash广泛应用于嵌入式系统领域,便于系统进行软件在线更新和系统维护。嵌入式NOR Flash可以"嵌入"在芯片中作为高速缓存,对于提升芯片整体性能作用明显。传统的嵌入式NOR Flash不具备测试接口,在芯片出现工作异常时不便于对整个芯片进行故障诊断。设计并实现了一种具有片上可测试功能的嵌入式NOR Flash控制器IP。控制器主要分为控制模块与测试模块两个部分,分别对两个模块进行分析设计。经过仿真验证,控制器可以实现对NOR Flash的正常操作与片外测试功能,达到了设计目标。

主 题 词：NOR Flash IP核 存储器控制器 可测试性 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16257/j.cnki.1681-1070.2016.0080

馆 藏 号：203178230...