红外成像传感器系统非均匀性成因研究

作     者：李召龙 史浩然 娄树理 LI Zhao-long;SHI Hao-ran;LOU Shu-li

作者机构：海军航空工程学院控制工程系山东烟台264001 海军航空工程学院研究生管理大队山东烟台264001 

出 版 物：《红外》 (Infrared)

年 卷 期：2016年第37卷第7期

页      码：29-32,42页

摘      要：从探测器的响应特性、光学系统的相对辐射和外壳的杂散光三个方面对红外成像传感器系统非均匀性的产生原因进行了理论研究。红外焦平面阵列中,探测元与探测元间的结构及材料差异会影响量子效率及暗电流,从而影响探测元的响应特性。光学系统主要通过光瞳畸变矩阵影响场景辐射通量的分布,光学系统本身的辐射对非均匀性的贡献可以忽略。外壳的杂散光可分为高温部分和低温部分,忽略低温部分,引入系统冷屏效率的概念,建立了高温组件的辐射模型。该理论研究对光学系统的设计及非均匀性校正具有一定的参考意义。

主 题 词：IRFPA 非均匀性 探测器响应 光学系统 外壳杂散光 

学科分类：080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 0803[工学-仪器类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-8785.2016.07.005

馆 藏 号：203179109...