大面积高精度快速3D测试中莫尔技术的应用探索

作     者：王学礼 李根乾 赵宏 谭玉山 WANG Xue-li;LI Gen-qian;ZHAO Hong;TAN Yu-shan

作者机构：西安交通大学激光与红外应用研究所陕西西安710049 西北工业大学陕西西安710072 

基　　金：教育部"行动计划"基金资助项目 

出 版 物：《半导体光电》 (Semiconductor Optoelectronics)

年 卷 期：2000年第21卷第6期

页      码：405-409页

摘      要：设计了一种全新的投影莫尔三维轮廓投影成像测试系统。去除了传统机械式相移结构 ,首次利用计算机实时控制变光源相移技术 ,大大提高了系统测试速度。创造性地采用垂直投影 ,双CCD倾斜成像机构 ,提高了光场的均匀性和可测物范围。该系统具有测试速度快 (全场测量 :4～ 8s)、测量面积大 (最大可为 30 0mm× 30 0mm)、光强照明均匀等优点 ,系统测量精度可达4 0 μm。详细分析了系统关键技术 ,并给出了具体实验结果。结果表明系统的设计原理是成功的 ,为大面积物体三维轮廓快速高精度测量提供了一种有力的手段。

主 题 词：投影莫尔 三维测量 变光源 图像处理 

学科分类：0711[理学-心理学类] 07[理学] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-5868.2000.06.009

馆 藏 号：203181195...