抑制散斑干涉测量中退相关的相位调制方法

作     者：蔡怀宇 郭震东 黄战华 李青青 Cai Huaiyu;Guo Zhendong;Huang Zhanhua;Li Qingqing

作者机构：天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术教育部重点实验室天津300072 

基　　金：国家自然科学基金(60677033 61275009) 

出 版 物：《激光与光电子学进展》 (Laser & Optoelectronics Progress)

年 卷 期：2016年第53卷第4期

页      码：124-130页

摘      要：退相关现象制约散斑干涉测量的实现。为了增加散斑场的相关性,抑制退相关,提出一种使用三次相位板进行相位调制的方法。通过分析散斑场相关性与散斑尺寸的关系,阐述了相位调制通过扩展散斑尺寸而抑制退相关的机理,仿真验证了方法的有效性。在此基础上设计了相位调制散斑干涉测量系统,其物光光路采用4f系统结构,可在相位面处放置三次相位板方便地进行相位调制。对比实验结果表明:经相位调制的散斑场横向相关尺寸提升约1.7倍,纵向相关尺寸提升约2.5倍,有效抑制了散斑干涉测量中退相关的发生,能够获得良好干涉条纹的纵向相干区域扩展约2.5倍,提升了散斑干涉条纹局部对比度。

主 题 词：测量 干涉测量法 退相关 散斑尺寸 相位编码调制 立方形相位板 

学科分类：070207[070207] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-仪器类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3788/lop52.041203

馆 藏 号：203182353...