比率采样法在镀层厚度测量中的应用

作     者：俞阿龙 

作者机构：淮阴师范学院物理系江苏淮安223001 

基　　金：江苏省教育厅资助项目(编号:01KJD470006) 

出 版 物：《工业仪表与自动化装置》 (Industrial Instrumentation & Automation)

年 卷 期：2004年第2期

页      码：27-29页

摘      要：　该文介绍比率采样法在镀层厚度测量中的应用,详细叙述了测量系统的组成原理和主要单元电路的设计。所设计的测量系统适合于对导磁工件上镀有非导磁材料的镀层厚度的测量。通过采用比率采样技术,在保持元件性能不变的前提下,可提高测量精度。

主 题 词：比率采样 厚度测量 镀层 线性化 V/F转换 单片机 

学科分类：080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-0682.2004.02.009

馆 藏 号：203182918...