SGS测量技术中的计数率损失校正方法试验研究

作     者：郜强 卢文广 邵婕文 何丽霞 隋洪志 甘霖 

作者机构：中国原子能科学研究院核保障技术重点实验室 

出 版 物：《电气时代》 (Electric Age)

年 卷 期：2016年第6期

页      码：93-96页

摘      要：在HPGeγ谱仪测量中,当谱仪系统通过的总计数率较高时,会出现计数率损失现象。在定量测量分析中需要对损失的计数率进行校正。通过试验,对参考峰法与谱仪内置活时间计数法的校正效果进行了比较分析。结果表明：在试验涉及的死时间范围中,参考峰校正方法存在不足,而活时间计数法得到的计数率结果能够满足定量测量的需要。根据这个结果,卸除了研制中的分段式γ扫描测量装置上的参考源,降低了装置成本,提高了装置的安全性能,简化了测量分析流程。试验表明，简化后装置的测量分析结果满足设计指标的要求。

主 题 词：方法试验 测量技术 校正效果 计数率 损失 HPGeγ谱仪 SGS 测量装置 

学科分类：082704[082704] 08[工学] 0827[工学-食品科学与工程类] 

馆 藏 号：203183297...