关于Photo Spacer高度与LC滴入数据联动的研究报告

作     者：江桥 孟凡维 管礼志 陈维诚 陈杰 车晓盼 左爱翠 郭红光 刘俊豪 

作者机构：合肥京东方光电科技有限公司 

出 版 物：《电子世界》 (Electronics World)

年 卷 期：2016年第15期

页      码：191-193页

摘      要：研究了京东方小尺寸出现的一系列高低温测试过程中出现的重力Mura和Bubble问题,主要为Photo Spacer(PS)存在较大波动,导致LC Margin评价出现偏差,或者LC Margin评价后,实际量产PS存在批次性差异。通过对问题根源的分析,一方面寻找精确测试LC Margin的方案;另一方面对于真实Margin过小的产品,研究LC量与实际PS高度进行匹配,以联动的方式管控液晶量的滴入,从而克服PS波动过大引起的LC偏出真实Margin的问题。鉴于目前几乎所有ADS Mobile产品面临的面贴按压水波纹和发黄的现状,产品在设计时需要增加Main PS的密度,直接影响PS的压缩率,导致LC Margin过小。而当PS工艺管控能力无法满足LC Margin过小所需的精度时,从LC与PS联动的角度研究了解决问题的方案,从而保证产品品质的同时,减小工程管控风险。

主 题 词：PS高度 液晶量 LC Margin 工程能力 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.19353/j.cnki.dzsj.2016.15.146

馆 藏 号：203183519...