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基于自适应噪声抵消的光电二极管阵列检测器

基于自适应噪声抵消的光电二极管阵列检测器

作     者:申爽 唐祯安 李彤 SHEN Shuang;TANG Zhen-an;LI Tong

作者机构:大连理工大学电子工程系辽宁大连116024 大连依利特分析仪器有限公司辽宁大连116011 

出 版 物:《光电子.激光》 (Journal of Optoelectronics·Laser)

年 卷 期:2006年第17卷第5期

页      码:573-577页

摘      要:由于普通光电二极管阵列检测器(PDAD)无法克服光源波动造成的影响,设计开发了一种采用自适应噪声抵消技术的PDAD。该检测器采用分光镜实现光的分束和合束,采用凹面光栅实现分光系统,PDA作为光电接收元件。在斩光器和后续电路的配合下,实现了在同一PDA上信号光光谱、参考光光谱和暗电流的分时测量。由于采用参考光的吸光度信号对样品光的吸光度信号进行自适应噪声抵消,可以有效降低光源光强波动的影响,使基线短期噪声降低1×10-5AU,漂移降低为1×10-4AU/h。

主 题 词:光电二极管阵列(PDA) 自适应噪声抵消 检测器 

学科分类:0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0803[工学-仪器类] 

核心收录:

D O I:10.3321/j.issn:1005-0086.2006.05.016

馆 藏 号:203186667...

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