LXI硬件总线触发接口设计

作     者：陶芳胜 黄珍元 邱畅 Tao Fangsheng;Huang Zhenyuan;Qiu Chang

作者机构：中国电子科技集团公司第四十一研究所青岛266555 

出 版 物：《国外电子测量技术》 (Foreign Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：2013年第32卷第5期

页      码：21-25页

摘      要：LXI总线标准具有高效、快速、资源利用率高等特点,使其成为测试行业发展的必然趋势。基于LXI总线构建的测试系统中同步和触发功能是设备间协调工作的关键,主要介绍了LXI标准中硬件触发总线的原理和触发的工作模式,重点介绍了基于FPGA的硬件触发总线的设计方案,给出了硬件触发两种工作模式之间转换的硬件电路方案,使用该方案组建的LXI测试系统在实际测试中可达到40ns的触发精度,满足LXI总线对于触发精度的要求。

主 题 词：LXI 触发 硬件总线 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-8978.2013.05.005

馆 藏 号：203186768...