嵌入式微处理器片上调试系统的设计和验证

作     者：龚令侃 卢景芬 GONG Ling-kan;LU Jing-fen

作者机构：华东计算技术研究所上海200233 

出 版 物：《计算机工程》 (Computer Engineering)

年 卷 期：2008年第34卷第B9期

页      码：131-133页

摘      要：为了尽可能保持芯片原有体系结构,综合基于软件监控和基于JTAG的2种方法,提出扩展嵌入式处理器片上调试系统的完整解决方案。该系统包括PC端的开发环境IDE、命令转发与控制子系统Probe和支持JTAG标准的目标CPU等部分。通过软硬件协同设计和验证,确保系统划分正确,子系统协调工作,并缩短了调试系统的开发周期。

主 题 词：嵌入式微处理器 片上调试系统 软硬件协同设计和验证 

学科分类：0711[理学-心理学类] 07[理学] 071102[071102] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-3428.2008.z1.048

馆 藏 号：203187198...