集成电路边界扫描测试系统中测试方式选择模块的电路设计

作     者：陈翎 潘中良 CHEN Ling;PAN Zhong-liang

作者机构：华南师范大学物理与电信工程学院广东广州510006 

基　　金：广东省自然科学基金(编号:2014A030313441) 广东省科技计划项目(编号:2013B090600063 2014B090901005) 广州市科技计划项目(编号:201510010169)资助 

出 版 物：《装备制造技术》 (Equipment Manufacturing Technology)

年 卷 期：2016年第7期

页      码：23-27页

摘      要：集成电路规模的不断增加,使测试的开销在产品总成本中所占的比重越来越大,测试的过程更为复杂,因此对电路芯片需要采用边界扫描测试进行可测性设计。对边界扫描控制器中的测试方式选择TMS模块的功能进行了详细说明,给出了该模块的电路设计方法与步骤。通过与测试软件的结合,能检测芯片间互连线的开路故障、短路故障、固定型故障,以及芯片的内部逻辑功能是否正常。

主 题 词：集成电路 边界扫描 TAP控制器 测试方式选择 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-545X.2016.07.007

馆 藏 号：203187921...