某型装备CCD常亮坏点检测仪的设计

作     者：李林涛 陈世纯 吴勇 LI Lin-tao;CHEN Shi-chun;WU Yong

作者机构：武汉军械士官学校导弹系湖北武汉430075 

出 版 物：《仪表技术》 (Instrumentation Technology)

年 卷 期：2016年第4期

页      码：13-15页

摘      要：针对某型装备安装的CCD图像传感器缺少专门检测设备对其常亮坏点进行检测的问题,设计了基于Arduino开发环境的CCD常亮坏点检测仪。检测仪以Arduino为控制核心,控制完成CCD输出信号调理和检测,计算出CCD常亮坏点位置和数量。通过可编程智能LCD开发人机交互界面,与Arduino建立串口通信,通过数据交互,完成对Arduino的控制和检测结果的显示。应用表明,检测仪能够快速、准确地对CCD常亮坏点进行检测。

主 题 词：Arduino CCD 可编程智能LCD 

学科分类：08[工学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 081102[081102] 

D　O　I：10.19432/j.cnki.issn1006-2394.2016.04.004

馆 藏 号：203188793...