提高测速系统存储速率及可靠性的方法

作     者：曹勋 赵冬娥 李致成 张斌 CAO Xun;ZHAO Dong’e;LI Zhicheng;ZHANG Bin

作者机构：中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室太原030051 

基　　金：教育部科学技术研究重点项目(211027) 山西省研究生优秀创新项目(20143080) 

出 版 物：《电子器件》 (Chinese Journal of Electron Devices)

年 卷 期：2016年第39卷第1期

页      码：152-155页

摘      要：针对破片测速系统对数据存储速率快、可靠性高的要求,提出了基于流水线设计的数据快速存储方案和基于FPGA片内建立虚拟存储器来管理FLASH坏块列表的方法。该方法有效降低存储系统的平均响应时间,将数据流的存储速率提高了近2倍;并且有效地屏蔽FLASH的坏块,保证了破片数据存储的可靠性。测试结果表明:数据存储速率提高到2.4 Mbyte/s,为原始速率的3倍。数据存储的可靠性为100%。该方法能有效提高测速系统的存储速率和可靠性。

主 题 词：存储测试 存储速率 流水线设计 坏块管理 

学科分类：12[管理学] 1201[管理学-管理科学与工程类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1005-9490.2016.01.031

馆 藏 号：203189261...