基于FinFET的IC产品的设计和测试

作     者：Carey Robertson Steve Pateras 无

作者机构：Mentor Graphics公司 

出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期：2016年第25卷第8期

页      码：37-37,80页

摘      要：FinFET晶体管的兴起对IC物理设计和可测试性设计流程具有显著影响。引入FinFET意味着在IC设计流程中，CMOS晶体管必须建模为三维（3D）器件，

主 题 词：FinFET IC产品 设计流程 可测试性 CMOS晶体管 物理设计 器件 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-5289.2016.08.006

馆 藏 号：203189647...