一种相互独立性测试算法

作     者：袁小龙 沈绪榜 

作者机构：西安微电子技术研究所 

出 版 物：《计算机研究与发展》 (Journal of Computer Research and Development)

年 卷 期：1997年第34卷第S1期

页      码：218-221页

摘      要：高级综合技术的研究在当前倍受关注．在进行操作调度与资源分配时，为了节省资源，提高设计质量，应对含有条件结构的流图进行相互独立性测试．通过对相互独立性测试问题进行研究，给出了一种相互独立性测试算法．经实验证明，该算法具有速度快、效率高的特点，应用在高级综合系统中时，可极大地提高综合设计的质量．

主 题 词：高级综合 相互独立性测试 CDFG模型 条件分支 

学科分类：1305[艺术学-设计学类] 13[艺术学] 08[工学] 080203[080203] 081304[081304] 0802[工学-机械学] 0813[工学-化工与制药类] 080201[080201] 

核心收录：

馆 藏 号：203192790...